微小力值推拉力测试机功能以及特点

一、试验机简介：

　　推拉力测试机，又称为微小产品推拉力测试机、微小产品推拉力试验机、桥丝键合丝拉伸测试机，能对金属、非金属材料进行推拉力、剪切力、剥离力、拉拔力等物理力学性能测试，如半导体、焊线、金线、铜线、合金线、铝线等线束、金球、铜球、锡球、固晶、晶圆、薄膜、芯片、电子元件、铝带、灯光、LED、液晶、显示屏、手机、电脑、表盘、各式弹簧、门锁、电器等，广泛应用于jun工、半导体、航天、工业、研究机构、实验室、学院等域。

　二、主要特点

　　推拉力测试机用于半导体或光电，电路板组装业。适用于所有的Pull拉力和 Shear 推力测试，可高精度，高重复性，高再现性。

　　1.摇杆操作，简便易学；

　　2.马达驱动 X，Y 工作台；

　　3.适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力；及COB封装、光电，LED，SMT组装，原件与基板黏合测试。

　　主要特征：

　　拉力测试测试范围可在0-100G；0-1KG；0-10KG；0-100kg进行选择；

　　推球测试测试范围可在250G 或 5KG或20kg等进行选择；

　　芯片或CHIP推力测试范围可在测试到0-100公斤；0-200KG进行选择；

　　镊子撕力测试头量程为100G 和5KG进行选择；

BGA拔球到0-100G；0-5KG进行选择。

三、推拉力测试机技术参数：

1、拉力测试精度：传感器量程看下面表格选择，综合测试精度0.1%；(可根据客户需要配置不同量程传感器)；

2、小推力测试精度：传感器量程看下面表格选择，综合测试精度0.1%；(可根据客户需要配置不同量程传感器)；

3、大推力测试精度：传感器量程看下面表格选择，综合测试精度0.1%；(可根据客户需要配置不同量程传感器)；

4、软件可开放选择：压力测试、推力疲劳性测试、芯片高度测量、线弧高度测量；

5、X工作台： 有效行程100mm;分辩率0.0001mm(可根据客户需要定制更大行程)；

6、Y工作台： 有效行程100mm;分辩率0.0001mm (可根据客户需要定制更大行程)；

7、Z工作台： 有效行程100mm;分辩率0.0001mm (可根据客户需要定制更大行程)；

8、平台夹具：平台可共享各种夹具，夹具可360度旋转；

9、四轴运动平台，采用进口传动部件，确保机台高速、稳定运行；

10、双摇杆控制机器四向运动，操作简单快捷；

11、机器自带电脑，windows作业系统，软件操作简单，显示屏可显示测试资料及力值分布曲线；并可实时汇出、保存资料；

12、外观尺寸：宽W430mm*深D665mm*高H790mm；重量：95KG

13、电源：220V±5%   功率：1KW(max)；

14、驱动：采用日本松下伺服马达驱动，提供稳定，宽幅可调的转速驱动，高转速，低振动，高速定位。

15．传动：采用高精度滚珠螺杆轮传动，高刚性，变形小，低噪声；

16．导向：采用南埋韩原産之铬钢杆四柱导向,耐磨同轴性；

17．驱动：采用日本松下伺服马达驱动，提供稳定，宽幅可调的转速驱动，高转速，低振动，高速定位。

18．位移测量：采用日本LINE高脉冲（10000r/p）光电编码器测量位移，高达：0.01um；

19．力值测量：采用进口高精密防爆型拉压荷重元，精度：0.03%F.S

20．机架外罩：采用冷轨钢板剪折成形，并经静电喷涂处理，耐腐防锈富有质感；

21．机台底座：采用45#模具钢经研磨加工、拼焊而成，并经业钳工水准仪作水平定位处理，坚固耐用，表面经静电喷涂处理，耐腐防锈富有质感； 

 
四、推拉力测试机测试功能分析：

　　横向推拉力测试：

　　通过软件将测试头移动至所测试产品后上方，按开始测试后，Z 轴自动向下移动，当测试针头触至测试基板表面后，Z 向触信号启动，停止下降，Z 轴向上升至设定的剪切高度后停止。Y 轴按软件设定参数移动，在移动过程中 Y 轴以一段快速运行，当 Y 轴在移动过程中感应到设定触发力值时（即开始测试产品），速度会自动调整为二段慢速测试，测试数据的稳定性。

　　垂直推拉力测试：

　　通过软件将测试头移动至所测试产品后上方，将夹爪自动夹持样品，按开始测试后，Z 轴自动向上或向下移动，按照设定速度测试，实时绘制拉力或压力与形变曲线图，自动计算测试结果值。

　　横向或纵向摩擦力测试：

　　通过软件设定下压接触力将测试头移动至所测试产品后上方，按开始测试后，Z 轴自动向下移动，达到设定压力开始进行X或Y方向匀速运动，过程中Z轴根据压力变化进行恒定调整，实时绘制拉力或压力与形变、电阻曲线图，自动计算测试结果值。